Patento informacija

EN | LT

LT - PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE AND PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD USING WAVELENGTH CHARACTERISTIC OF LIGHT EMITTED FROM SINGLE ILLUMINANT PARTICLE

EN - PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE AND PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD USING WAVELENGTH CHARACTERISTIC OF LIGHT EMITTED FROM SINGLE ILLUMINANT PARTICLE

Teisinis statusas

Patentas neįsigaliojo (pagal EPK)

Bibliografiniai duomenys

Tarptautinės patentų klasifikacijos indeksai (TPK)
(51)	INT.CL.	G01N 21/64
		G02B 21/00

Europos patentas
(11)	Patento numeris	2631631
(13)	Dokumento rūšis	T
(96)	Europos patento paraiškos numeris	11843762.3
	Europos patento paraiškos padavimo data	2011-11-14
(97)	Europos patento paraiškos paskelbimo data	2013-08-28
(45)	Paskelbimo apie Europos patento išdavimą data	2016-01-20
(46)	Apibrėžties vertimo paskelbimo data

Tarptautinės paraiškos padavimo
(86)	Numeris	PCT/JP2011/076151
	Data	2011-11-14

Tarptautinės paraiškos paskelbimo
(87)	Numeris	WO 2012/070414
	Data	2012-05-31

Prioriteto paraiškos
(30)	Numeris	Data	Šalis
	2010262267	2010-11-25	JP

Išradėjai
(72)	HANASHI, Takuya, JP TANABE, Tetsuya, JP YAMAGUCHI, Mitsushiro, JP

Savininkas
(73)	Olympus Corporation, 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku Tokyo 151-0072, JP

Pavadinimas
(54)	PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE AND PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD USING WAVELENGTH CHARACTERISTIC OF LIGHT EMITTED FROM SINGLE ILLUMINANT PARTICLE
	PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE AND PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD USING WAVELENGTH CHARACTERISTIC OF LIGHT EMITTED FROM SINGLE ILLUMINANT PARTICLE