Herbas VPB

Spausdinti
EN | LT
LT - A METHOD AND A SYSTEM FOR XRF MARKING AND READING XRF MARKS OF ELECTRONIC SYSTEMS
EN - A METHOD AND A SYSTEM FOR XRF MARKING AND READING XRF MARKS OF ELECTRONIC SYSTEMS

Teisinis statusas

Patentas neįsigaliojo (pagal EPK)

Bibliografiniai duomenys
Tarptautinės patentų klasifikacijos indeksai (TPK)
(51) INT.CL. G01N 23/223 (2006.01)
G01N 23/223 (2013.01)
H05K 1/02 (2006.01)
H05K 1/0269 (2013.01)
H05K 1/181 (2013.01)
H05K 1/03 (2006.01)
H05K2201/10159 (2013.01)
H05K 1/09 (2006.01)
H05K 1/038 (2013.01)
H05K 1/11 (2006.01)
H05K 1/18 (2006.01)
H05K 3/3452 (2013.01)
H05K 3/28 (2006.01)
H05K 1/092 (2013.01)
H05K 3/34 (2006.01)
H05K 1/095 (2013.01)
H05K 3/22 (2006.01)
H05K 3/287 (2013.01)
A61B 5/024 (2006.01)
H05K 1/115 (2013.01)
A61B 5/0255 (2006.01)
H05K2201/0959 (2013.01)
A61B 5/00 (2006.01)
H05K 1/0275 (2013.01)
H05K 3/225 (2013.01)
H05K2203/168 (2013.01)
H05K2203/166 (2013.01)
Y02P 70/50 (2015.11)
Europos patentas
(11) Patento numeris 3472599
(13) Dokumento rūšis T
(96) Europos patento paraiškos numeris 17778790.0
Europos patento paraiškos padavimo data 2017-04-04
(97) Europos patento paraiškos paskelbimo data 2019-04-24
(45) Paskelbimo apie Europos patento išdavimą data 2022-06-01
(46) Apibrėžties vertimo paskelbimo data
Tarptautinės paraiškos padavimo
(86) Numeris PCT/IL2017/050404
Data 2017-04-04
Tarptautinės paraiškos paskelbimo
(87) Numeris WO 2017/175219
Data 2017-10-12
Prioriteto paraiškos
(30) Numeris Data Šalis
201662317859 P 2016-04-04 US
Išradėjai
(72)
GROF, Yair , IL
KISLEV, Tzemah , IL
YORAN, Nadav , IL
ALON, Haggai , IL
Savininkas
(73) Soreq Nuclear Research Center , Nahal Soreq, 81800 Yavne, IL
Security Matters Ltd. , Kibbutz Ketura, 8884000 D.N. Hevel Eilot, IL
Pavadinimas
(54) A METHOD AND A SYSTEM FOR XRF MARKING AND READING XRF MARKS OF ELECTRONIC SYSTEMS
  A METHOD AND A SYSTEM FOR XRF MARKING AND READING XRF MARKS OF ELECTRONIC SYSTEMS