|
|
|
|
|
Teisinis statusas
Patentas panaikintas (nesumokėtas metų mokestis)
| (51) | INT.CL.: (2006.01) |
G01N 21/17 G03H 1/00 G01R 31/26 |
| (11) | Patento numeris | 5402 |
| (13) | Dokumento rūšis | B |
| (21) | Paraiškos numeris | 2005 020 |
| (22) | Paraiškos padavimo data | 2005-03-01 |
| (41) | Paraiškos paskelbimo data | 2006-09-25 |
| (45) | Patento paskelbimo data | 2007-02-26 |
| (71) |
Kęstutis JARAŠIŪNAS,
Ežero g. 23, 14159 Antežeriai, Vilniaus r.,
LT
Markas SŪDŽIUS, Saulėtekio al. 35-52, 10222 Vilnius, LT |
| (72) |
Kęstutis JARAŠIŪNAS, LT
Markas SŪDŽIUS, LT |
| (73) |
Kęstutis JARAŠIŪNAS,
Ežero g. 23, 14159 Antežeriai, Vilniaus r.,
LT
Markas SŪDŽIUS, Saulėtekio al. 35-52, 10222 Vilnius, LT |
| (74) |
| (54) | Puslaidininkinių medžiagų fotoelektrinių parametrų holografinis matavimo būdas ir įrenginys |
| Mokėjimo data | Galiojimo metai | Suma | |
| 2009-02-24 | 5 | 400.00 LTL |
| Patentas panaikintas (nesumokėtas metų mokestis) | ||
| Patento panaikinimo data | 2010-03-01 |